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產(chǎn)品名稱:
蘇州杉本低相位差高速檢查設(shè)備 RE-200
產(chǎn)品型號:
產(chǎn)品展商:
OTSUKA大塚電子
折扣價格:
0.00 元
關(guān)注指數(shù):204
產(chǎn)品文檔:
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光軸的高精度管理！ 3σ≦0.02°
低相位差測量
蘇州杉本低相位差高速檢查設(shè)備 RE-200
的詳細(xì)介紹
低相位差高速檢查設(shè)備 RE-200
產(chǎn)品信息
特 點
? 可測從0nm開始的低（殘留）相位差
? 光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.)
（相當(dāng)于世界*快速的0.1秒以下來處理）
? 無驅(qū)動部，重復(fù)再現(xiàn)性高
? 設(shè)置的測量項目少，測量簡單
? 測量波長除了550nm以外，還有各種波長
? Rth測量、全方位角測量
（需要option的自動旋轉(zhuǎn)傾斜治具
? 通過與拉伸試驗機組合，可同時評價膜的偏光特性和光弾性
(本系統(tǒng)屬特注。）
測量項目
? 相位差（ρ[deg.], Re[nm]）
? 主軸方位角（θ[deg.]）
? 橢圓率（ε）?方位角（γ）
? 三次元折射率（NxNyNz）
用 途
? 位相差膜、偏光膜、橢圓膜、視野角改善膜、各種功能性膜
? 樹脂、玻璃等透明、非均質(zhì)材料（玻璃有變形，歪曲等）
原 理
? 什么是RE-200
? RE-200是光子結(jié)晶素子（偏光素子）、CCD相機構(gòu)成的偏光計測模塊和透過的偏光光學(xué)系相組合，可高速且高精度的測量位相差（相位差）、及主軸方位角。CCD相機1次快門獲取偏光強度模式，沒有偏光子旋轉(zhuǎn)的機構(gòu)，系統(tǒng)整體上是屬于小型構(gòu)造，長時間使用也能維持穩(wěn)定的性能。
仕 樣
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型號
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RE series
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樣品尺寸
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*小10×10mm ～*大100×100mm
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測量波長
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550nm （標(biāo)準(zhǔn)仕樣）※1
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相位差測量范圍
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約0nm ～約1μm
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軸檢出重復(fù)精度
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0.05°（at 3σ） ※2
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檢出器
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偏光計測模塊
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測量光斑直徑
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2.2mm×2.2mm
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光源
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100W 鹵素?zé)艋?LED光源
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本體?重量
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300(W) × 560(H) ×430（D) mm 、約20kg
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Option
? Rth測量、全方位角測量※治具本體（旋轉(zhuǎn)：180°, 傾斜：±50°）
? 動旋轉(zhuǎn)傾斜治具