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產(chǎn)品名稱:
OTSUKA大塚光學(xué)RE-200半導(dǎo)體
產(chǎn)品型號(hào):
RE series
產(chǎn)品展商:
OTSUKA大塚電子
折扣價(jià)格:
0.00 元
關(guān)注指數(shù):29
產(chǎn)品文檔:
無相關(guān)文檔
RE-200是光子結(jié)晶素子（偏光素子）、CCD相機(jī)構(gòu)成的偏光計(jì)測模塊和透過的偏光光學(xué)系相組合，可高速且高精度的測量位相差（相位差）、及主軸方位角。CCD相機(jī)1次快門獲取偏光強(qiáng)度模式，沒有偏光子旋轉(zhuǎn)的機(jī)構(gòu)，系統(tǒng)整體上是屬于小型構(gòu)造，長時(shí)間使用也能維持穩(wěn)定的性能。
OTSUKA大塚光學(xué)RE-200半導(dǎo)體
的詳細(xì)介紹
蘇州市新杉本電子科技有限公司/ 日本大冢電子OTSUKA 蘇州新杉本直銷/聯(lián)系人陳小姐15250013623
特 長
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0nmからの低（殘留）リタデーション測定が可能
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光軸検出と同時(shí)にリタデーション(Re.)の高速測定が可能（世界*速相當(dāng)0.1秒以下での処理が可能）
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駆動(dòng)部がないため、高い繰り返し再現(xiàn)性を?qū)g現(xiàn)
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設(shè)定する測定項(xiàng)目が少なく、測定が簡単
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測定波長は550nmのほか、さまざまな波長をラインアップ
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Rth測定、全方位角測定が可能（オプションの自動(dòng)回転傾斜治具が必要です
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引張?jiān)囼Y機(jī)と組み合わせることにより、フィルムの偏光特性と同時(shí)に光弾性評(píng)価が可能(このシステムは特注対応となります。）
特 長
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リタデーション（ρ[deg.], Re[nm]）
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主軸方位角（θ[deg.]）
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楕円率（ε）?方位角（γ）
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三次元屈折率（NxNyNz）
特 長
特 點(diǎn)
? 可測從0nm開始的低（殘留）相位差? 光軸檢出同時(shí)可高速測量相位差(Re.)（相當(dāng)于世界*快速的0.1秒以下來處理）? 無驅(qū)動(dòng)部，重復(fù)再現(xiàn)性高? 設(shè)置的測量項(xiàng)目少，測量簡單? 測量波長除了550nm以外，還有各種波長? Rth測量、全方位角測量（需要option的自動(dòng)旋轉(zhuǎn)傾斜治具? 通過與拉伸試驗(yàn)機(jī)組合，可同時(shí)評(píng)價(jià)膜的偏光特性和光弾性(本系統(tǒng)屬特注。）
測量項(xiàng)目
? 相位差（ρ[deg.], Re[nm]）? 主軸方位角（θ[deg.]）? 橢圓率（ε）?方位角（γ）? 三次元折射率（NxNyNz）
用 途
? 位相差膜、偏光膜、橢圓膜、視野角改善膜、各種功能性膜? 樹脂、玻璃等透明、非均質(zhì)材料（玻璃有變形，歪曲等）
原 理
? 什么是RE-200? RE-200是光子結(jié)晶素子（偏光素子）、CCD相機(jī)構(gòu)成的偏光計(jì)測模塊和透過的偏光光學(xué)系相組合，可高速且高精度的測量位相差（相位差）、及主軸方位角。CCD相機(jī)1次快門獲取偏光強(qiáng)度模式，沒有偏光子旋轉(zhuǎn)的機(jī)構(gòu)，系統(tǒng)整體上是屬于小型構(gòu)造，長時(shí)間使用也能維持穩(wěn)定的性能。
仕 樣
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型號(hào)
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RE series
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樣品尺寸
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*小10×10mm ～*大100×100mm
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測量波長
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550nm （標(biāo)準(zhǔn)仕樣）※1
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相位差測量范圍
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約0nm ～約1μm
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軸檢出重復(fù)精度
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0.05°（at 3σ） ※2
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檢出器
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偏光計(jì)測模塊
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測量光斑直徑
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2.2mm×2.2mm
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光源
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100W 鹵素?zé)艋?LED光源
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本體?重量
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300(W) × 560(H) ×430（D) mm 、約20kg
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Option? Rth測量、全方位角測量※治具本體（旋轉(zhuǎn)：180°, 傾斜：±50°）
? 動(dòng)旋轉(zhuǎn)傾斜治具