美國Filmetrics優(yōu)尼康R54電阻率測量儀

美國Filmetrics優(yōu)尼康提供主動(dòng)式減震臺; Proflm3D光學(xué)輪廓儀; Fimetrics膜厚儀; 美國薄膜測厚儀;臺階儀; 輪廓儀等產(chǎn)品

美國Filmetrics優(yōu)尼康-R54電阻率測量儀R54電阻率測量儀Filmetrics R54是KLA薄膜電阻和導(dǎo)電率測繪系統(tǒng)。從半導(dǎo)體制造到實(shí)現(xiàn)可穿戴技術(shù)所需的柔性電子產(chǎn)品，薄膜電阻監(jiān)控對于任何使用導(dǎo)電薄膜的行業(yè)都比較重要。產(chǎn)品名稱： R54電阻率測量儀 品牌： Filmetrics 產(chǎn)品型號： R54-200 產(chǎn)地： 美國R54電阻率測量儀 **薄膜電阻率測繪系統(tǒng)Filmetrics R

R54電阻率測量儀

Filmetrics R54是KLA薄膜電阻和導(dǎo)電率測繪系統(tǒng)。從半導(dǎo)體制造到實(shí)現(xiàn)可穿戴技術(shù)所需的柔性電子產(chǎn)品，薄膜電阻監(jiān)控對于任何使用導(dǎo)電薄膜的行業(yè)都比較重要。
**薄膜電阻率測繪系統(tǒng)

Filmetrics R54是KLA薄膜電阻和導(dǎo)電率測繪系統(tǒng)，從半導(dǎo)體制造到實(shí)現(xiàn)可穿戴技術(shù)所需的柔性電子產(chǎn)品，薄膜電阻監(jiān)控對于任何使用導(dǎo)電薄膜的行業(yè)都比較重要。R54在功能上針對金屬薄膜均勻性測繪、離子注入表征和退火特性、薄膜厚度和電阻率測量以及非接觸式薄膜厚度測量進(jìn)行了優(yōu)化。

系統(tǒng)優(yōu)勢：

1.測試點(diǎn)自定義編輯,包括矩形、線性、極坐標(biāo)以及自定義配置

2.可選配可容納300毫米圓形或A4（210mm*297mm）樣品

3.導(dǎo)體和半導(dǎo)體薄膜電阻，10個(gè)數(shù)量級范圍適用

4.接觸式四點(diǎn)探針(4PP)和非接觸式電渦流(EC)配置

5.封閉系統(tǒng)便于測量光敏或者環(huán)境敏感樣品

6.支持15mm 樣品高度

7.高精度 X-Y 平臺
應(yīng)用市場：

半導(dǎo)體

先進(jìn)封裝

平板和VR顯示

穿戴設(shè)備

化合物半導(dǎo)體

太陽能

印刷電路

導(dǎo)電材料
RsMapper軟件:

測量自動(dòng)化地圖模式生成器，內(nèi)置的地圖模式生成器使您輕松生成需要測量的斑點(diǎn)圖案樣品的相關(guān)區(qū)域，從而節(jié)省了數(shù)據(jù)采集期間的時(shí)間。

這只是您可以使用的一些參數(shù)

進(jìn)行調(diào)整以自定義地圖的屬性:

圓形或正方形地圖

徑向或矩形圖案

中心或邊緣排除

點(diǎn)密度