X射線熒光光譜儀，F(xiàn)ISCHERSCOPE® X-RAY XUV®773，F(xiàn)ISCHER的產品介紹：

FISCHERSCOPE X-RAY XUV®773器配有一個可抽真空的大型測量箱。其所裝備的大面積硅漂移探測
器能夠探測低至1 keV的熒光輻射能量，從而能夠有效地測量元素N、 M以及元素Zn、 Cu、 Ni
的L輻射。大孔徑準直器的使用大幅提高了信號計數(shù)率，使儀器可以達到極小的重復精度和極低
的測量下限。 XUV非常適合測量極薄的鍍層和痕量分析。

FISCHERSCOPE X-RAY XUV®773的特征：

·帶鈹窗口的微聚焦X射線銠管，可選鎢管
和鉬管。*高工作條件：50 kV, 50W
·X射線探測器采用珀爾帖致冷的硅漂移
探測器
·準直器： 4個，可自動切換，從直徑
0.1mm到3mm
·基本濾片： 6個，可自動切換
·可編程XYZ工作臺
·攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量
位置?？潭染€經過校準，顯示實際測量點
大小。
·在真空，空氣或者氦氣的環(huán)境下工作

典型應用領域：

·測量輕元素
·測量超薄鍍層和痕量分析
·常規(guī)金屬分析鑒定
·非破壞式寶石分析
·太陽能光伏產業(yè)