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產(chǎn)品名稱:
HORIBA AFM(原子間力顕微鏡)ラマン
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AFM(原子間力顕微鏡)ラマン
HORIBA AFM(原子間力顕微鏡)ラマン
的詳細(xì)介紹
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概要
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仕様
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カタログ?アプリケーション?その他資料
AFM-Raman、TERS、SNOMによるナノイメージング裝置
※AFM : Atomic Force Microscope(原子間力顕微鏡)
※TERS : Tip-Enhanced Raman Spectroscopy (チップ増強(qiáng)ラマン分光)
※SNOM : Scanning Near-field Optical Microscope (走査型近接場顕微鏡)
AFM測定とラマン分光測定を同時に高速マッピング可能なナノイメージング分光裝置です。ソフトウェア制御による、照射レーザ光のアライメント機(jī)構(gòu)、AFMとラマン分光裝置との統(tǒng)合ソフトウェアを搭載することで、TERSやSNOM測定裝置としても容易な操作性、高速データ処理、高い信頼性を?qū)g現(xiàn)しました。
AFM-Ramanは、簡便に材料表面の物理、化學(xué)情報を得るための有効な複合裝置です。また、単にAFMとラマン分光測定を行うだけでなく、特殊なプローブを用いることでTERS、あるいはSNOMを組み合わせた測定が可能であり、AFM-Ramanはナノメートルスケールの構(gòu)造解析ツールとして今後ますます発展する可能性があります。
AFM-ラマンとTERS が容易に
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AFM、STM、SNOMなどの様々なSPM測定に対応
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対物レンズスキャナを用いたレーザ照射ポイントのファインアライメント
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垂直?斜方向に高NAの対物レンズ(0.7)を配置し、測定モードに合わせた*適な光學(xué)系を選択
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1300 nm ダイオードをカンチレバーフィードバックに採用し、可視～近赤外領(lǐng)域においてダイオード光の干渉のない測定
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AFMヘッドを取り外さずサンプル?チップ交換。交換前後のカンチレバー位置を自動調(diào)整(交換前後で測定位置座標(biāo)が同じ)
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カンチレバータイプおよびチューニングフォークを用いたメタルチップのTERS測定が可能
チューニングフォークを用いたTERS測定
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LabRAM HR Evolutionとの統(tǒng)合により、紫外～近赤外領(lǐng)域まで高スペクトル分解能の測定を?qū)g現(xiàn)
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1 臺のPCでAFMとラマン分光裝置を制御。
＜TERSによるナノスケールイメージング＞
表面トポグラフィとてTERSイメージを同時取得可能。
カーボンナノチューブ測定
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STMイメージ
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TERSイメージ
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カーボンナノチューブ?グラフェン測定
TERSイメージ
ソフトウェア
スクリプト機(jī)能やワンクリックで測定できるメソッド機(jī)能を備えたHORIBAオリジナルのラマンソフトウェアLabspec6と、AFMソフトウェアを統(tǒng)合。AFMで測定したポイントを簡易な操作でラマン分光測定できるなど、AFM-Ramanとしての操作性を追求しました。
様々なタイプのAFMと正立?倒立顕微鏡タイプの顕微ラマン分光裝置との統(tǒng)合など、カスタマイズ対応可能です。詳細(xì)は弊社にお問い合わせください。
製造會社: HORIBA