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產(chǎn)品名稱:
相位差/光學(xué)材料量測設(shè)備
產(chǎn)品型號:
cp-007
產(chǎn)品展商:
OTSUKA大冢光學(xué)
折扣價格:
0.00 元
關(guān)注指數(shù):451
產(chǎn)品文檔:
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可更加**的量測低相位差(0.1nm～)
*適合作為評估相位差的波長分散、自動檢測配向角(光學(xué)軸)或角度配向性等光學(xué)膜偏光特性的裝置。
檢測器采用多頻譜分光光譜儀，展現(xiàn)任一個波長的高精度相位差量測。
可選配傾斜式、旋轉(zhuǎn)式量測平臺，評估三次元折射率參數(shù)解析等視野角特性。
配合量測樣品，自由架構(gòu)量測平臺。
相位差/光學(xué)材料量測設(shè)備
的詳細(xì)介紹
產(chǎn)品特點
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可更加**的量測低相位差(0.1nm～)
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*適合作為評估相位差的波長分散、自動檢測配向角(光學(xué)軸)或角度配向性等光學(xué)膜偏光特性的裝置。
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檢測器采用多頻譜分光光譜儀，展現(xiàn)任一個波長的高精度相位差量測。
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可選配傾斜式、旋轉(zhuǎn)式量測平臺，評估三次元折射率參數(shù)解析等視野角特性。
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配合量測樣品，自由架構(gòu)量測平臺。
量測項目
產(chǎn)品規(guī)格
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樣品對應(yīng)尺寸
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*小20×20mm -*大100×100mm
(厚度: 2.5mm以下)
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相位差量測范圍
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旋轉(zhuǎn)檢光法
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約0nm ～ 數(shù)μm
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光干涉法
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約450nm ～ 數(shù)μm
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檢測器
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分光光譜儀
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量測波長范圍
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400 ～ 800nm
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量測口徑
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φ1、φ2、 φ5、φ10mm
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光學(xué)系統(tǒng)
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偏光光學(xué)系統(tǒng)
消光率10-5的方解石偏光鏡(Gran-tomson prism)
自動旋轉(zhuǎn)(角度 精度0.1°)
自動裝卸裝置
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量測用光原
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100W鹵素?zé)?
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電源供應(yīng)器規(guī)格
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AC100V±10V、1.5kVA
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尺寸、重量
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540(W）×580(D）×1000(H)mm, 約60kg
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應(yīng)用范圍
■光學(xué)薄膜
?相位差膜、橢圓膜、相位差板
?偏光膜、附加功能偏光膜、偏光板、其它光學(xué)材料
■液晶層
?穿透、半穿透型液晶層(TFT、TN、STN、IPS 、VA、OCB、強誘電性液晶)
?反射型液晶層(TN,STN)