如果您對該產(chǎn)品感興趣的話,可以
產(chǎn)品名稱:
橢圓偏光膜厚量測儀（手動）
產(chǎn)品型號:
cp-002
產(chǎn)品展商:
OTSUKA大冢光學(xué)
折扣價(jià)格:
0.00 元
關(guān)注指數(shù):448
產(chǎn)品文檔:
無相關(guān)文檔
400波長以上多通道分光的橢偏儀，高速量測橢圓偏光光譜。
自動變更反射量測角度，可得到更詳細(xì)的薄膜解析數(shù)據(jù)。
采用正弦桿自動驅(qū)動方式，展現(xiàn)量測角度變更時(shí)優(yōu)異的移動精度。
搭載薄膜分析所需的全角度同時(shí)量測功能。
可量測晶圓與金屬表面的光學(xué)常數(shù)(n:折射率、k:消光系數(shù))。
橢圓偏光膜厚量測儀（手動）
的詳細(xì)介紹
量測項(xiàng)目
產(chǎn)品規(guī)格
|
樣品對應(yīng)尺寸
|
100 × 100 mm
|
|
量測方式
|
偏光片元件回轉(zhuǎn)方式
|
|
入射/反射角度范圍
|
45 ~ 90°
|
|
入射/反射角度驅(qū)動方式
|
反射角度可自動變更
|
|
波長量測范圍
|
300 ~ 800 nm
|
|
分光元件
|
Poly-chrometer
|
|
尺寸
|
650(H)× 400(D)× 560(W)mm
|
|
重量
|
約50 kg
|
產(chǎn)品特點(diǎn)
-
400波長以上多通道分光的橢偏儀，高速量測橢圓偏光光譜。
-
自動變更反射量測角度，可得到更詳細(xì)的薄膜解析數(shù)據(jù)。
-
采用正弦桿自動驅(qū)動方式，展現(xiàn)量測角度變更時(shí)優(yōu)異的移動精度。
-
搭載薄膜分析所需的全角度同時(shí)量測功能。
-
可量測晶圓與金屬表面的光學(xué)常數(shù)(n:折射率、k:消光系數(shù))。