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產(chǎn)品名稱:
低相位差高速檢測設(shè)備
產(chǎn)品型號:
cp-001
產(chǎn)品展商:
OTSUKA大冢光學(xué)
折扣價格:
0.00 元
關(guān)注指數(shù):520
產(chǎn)品文檔:
無相關(guān)文檔
可測量從0nm開始的低相位差(殘留應(yīng)力)。
檢測光學(xué)軸的同時，同步高速測量相位差(Re.)。(0.1秒以下的高速同時量測)
偏光檢測儀無任何驅(qū)動元件干擾，可提高再現(xiàn)性量測精度。
無需復(fù)雜參數(shù)設(shè)定，操作簡單易懂。
550nm以外，亦可支援其它波長量測。
Rth量測、全角度量測。(需搭配自動旋轉(zhuǎn)傾斜裝置)
搭配拉力測試機可同時量測薄膜偏光特性與光彈性。(特殊規(guī)格)
低相位差高速檢測設(shè)備
的詳細介紹
產(chǎn)品特點
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可測量從0nm開始的低相位差(殘留應(yīng)力)。
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檢測光學(xué)軸的同時，同步高速測量相位差(Re.)。(0.1秒以下的高速同時量測)
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偏光檢測儀無任何驅(qū)動元件干擾，可提高再現(xiàn)性量測精度。
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無需復(fù)雜參數(shù)設(shè)定，操作簡單易懂。
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550nm以外，亦可支援其它波長量測。
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Rth量測、全角度量測。(需搭配自動旋轉(zhuǎn)傾斜裝置)
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搭配拉力測試機可同時量測薄膜偏光特性與光彈性。(特殊規(guī)格)
量測項目
量測原理
RE-100，系采用光結(jié)晶像素與CCD感光元件所構(gòu)成的偏光檢測儀。搭配帶有穿透率特性的各種偏光元件，可以高速同時進行相位差與光學(xué)軸的量測。 CCD感光元件會自動擷取經(jīng)過偏光后所呈現(xiàn)的畫面進行解析。相較以往，不需要再使用任何的驅(qū)動元件來尋找偏光后的受光強度。不但可提高再現(xiàn)性的精度、更具備長時間使用的安定性。
產(chǎn)品規(guī)格
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樣品尺寸
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*小10×10mm ～ *大100×100mm
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量測波長
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550nm (標準規(guī)格)*1
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相位差量測范圍
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約0nm ～ 約10μm
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相位差量測精度
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0.05nm (3σ)*2
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光學(xué)軸量測精度
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0.05°(3σ)*2
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解析元件
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偏光檢測儀
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量測口徑
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2.2mm×2.2mm
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通訊介面
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100W 鹵素?zé)艋騆ED光源
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尺寸
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300(W) × 560(H) ×430(D) mm
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重量
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約20 kg
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*1 可選擇其他波長
*2 量測水晶波長板之精度(約55nm，2枚型)
應(yīng)用范圍
■相位差膜、偏光膜、橢圓膜、視野角改善膜、各種機能性薄膜、
■樹脂、玻璃等透明帶有低相位差之樣品(殘留應(yīng)力)
量測范例
■ 視野角改善膜A
■ 視野角改善膜B
選配附件
自動旋轉(zhuǎn)傾斜裝置